Nečistoty a defekty na elektronických součástkách

Dozvíte se:

• Které části elektroniky můžete analyzovat (PCB, křemík, …).
• Jak analýzou složení defektu odhalíte chybu ve výrobním procesu.
• Jak lze jedním zařízením provádět kontrolu kvality i materiálový výzkum.

Podrobnosti o akci:

• Termín konání - 10.3.2021 v 10:00.
• Společný registrační formulář ZDE.
• Délka – 40 minut + diskuse.
• Forma: MS Teams – odkaz pro připojení bude zaslán na registrační mail nejpozději 24 hodin před konáním webináře (není potřeba nic instalovat).
• Účast na akci je ZDARMA.

Související produkty:

LUMOS II

Plně automatizovaný FTIR mikroskop pro chemický imaging

ALPHA II

Nová generace rutinní FTIR analýzy. 

INVENIO série

Skvělá volba pro rutinní i pokročilé výzkumné aplikace

Související aplikace:

Kontrola obvodových desek

Více informací >

Kontrola kvality křemíku

Více informací >

Kontrola kvality materiálů

Více informací >